設備

開放する機器

1 超高圧電子顕微鏡 (JEM-1300NEF) Ω型電子分光装置内蔵, EDS(エネルギー分散型X線分光器)付き
2 収差補正走査/透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F) 照射系、結像系二段補正、高効率X線検出器付き
3 広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡(JEM-ARM200CF)
4 3次元観察用電子分光型電子顕微鏡 (JEM-3200FSK)
5 ローレンツ電子顕微鏡 (TECNAIG2-F20) ※筑紫キャンパスに設置
6 デジタル電子顕微鏡(TECNAI-20)
7 マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置付き走査電子顕微鏡(SII TES + Zeiss-ULTRA55)
8 試料作製装置群
7-1デュアルビームFIB試料作製装置(FEI Quanta 3D 200i)
7-2 イオン研磨装置 (Gatan PIPS Ⅱ M-695)
7-3 イオン研磨装置 TEMミル (Fishione M 1050)

課金制度

本事業の主旨として利用者に相応の料金(装置利用料、技術指導料)を負担していただくことになりました。

装置利用料は以下の表に示す学内利用者用と同額に設定しています。

表1 装置利用料金(「九州大学超顕微解析研究センター使用規程」より抜粋)
設備等名 1枠(4時間)当たりの使用料
超高圧電子顕微鏡(JEM-1300NEF) 11,300円
収差補正走査/透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F) 9,100円
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡(JEM-ARM200CF) 9,400円
3次元観察用電子分光型電子顕微鏡(JEM-3200FSK) 10,000円
ローレンツ電子顕微鏡(TECNAIG2-F20) ※筑紫キャンパスに設置 8,600円
デジタル電子顕微鏡(TECNAI-20) 8,300円
マイクロカロリメータ高エネルギー分解能元素分析装置(SII TES+ Zeiss-ULTRA55) 6,800円+液体He実費
集束イオンビーム加工装置(FEI Quanta 3D 200i) 6,200円

主な機器