設備

開放する機器

 
1 超高圧電子顕微鏡 (JEM-1300NEF) Ω型電子分光装置内蔵, EDS(エネルギー分散型X線分光器)付き
2 収差補正走査/透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F) 照射系、結像系二段補正、高効率X線検出器付き
3 広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡(JEM-ARM200CF)
4 収差補正高分解能電子顕微鏡 (JEM-ARM200F) ※筑紫キャンパスに設置
5 3次元観察用電子分光型電子顕微鏡 (JEM-3200FSK)
6 ローレンツ電子顕微鏡 (TECNAIG2-F20) ※筑紫キャンパスに設置
7 デジタル電子顕微鏡(TECNAI-20)
8 マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置付き走査電子顕微鏡(SII TES + Zeiss-ULTRA55)
9 ハイコントラスト補助電子顕微鏡(JEM-2100HCKM)
10 デュアルビームFIB(Quanta 3D 200i)
11 直交型FIB-SEM(MI4000L)
12 研磨・薄片化装置
・PIPS Ⅱ M-695
・TEM MILL Model 1050
・Nano MILL Model 1040
・イオンスライサー EM-09100IS
13 コーティング装置
・イオンコーター JFC-1600
・カーボンコーター EC 32010CC

課金制度

本事業の主旨として利用者に相応の料金(機器利用、技術補助)をご負担いただきます。

プラットフォームのご利用料金は以下の表のようになります。

表1 微細構造解析プラットフォームの利用料金

2019年10月1日改定

装置名 1枠(4時間)当たりの利用料金
(第1枠 10:00~14:00、第2枠 14:30~18:30)
機器利用 技術補助
超高圧電子顕微鏡(JEM-1300NEF) 17,000円

4,100円


(備考)
本学職員による技術補助を必要とする場合は、各機器利用料に加算する。
収差補正走査/透過電子顕微鏡(JEM-ARM200F) 16,000円
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡(JEM-ARM200CF) 17,000円
収差補正高分解能電子顕微鏡(JEM-ARM200F)~筑紫地区~ 16,000円
三次元観察電子分光型電子顕微鏡(JEM-3200FSK) 14,000円
ローレンツ電子顕微鏡(TECNAI-F20)~筑紫地区~ 11,000円
デジタル分析電子顕微鏡(TECNAI-20) 9,600円
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置付き走査電子顕微鏡(TES+ULTRA55) 8,400円
ハイコントラスト補助電子顕微鏡(JEM-2100HCKM) 6,700円
デュアルビームFIB(Quanta 3D 200i) 14,000円
直交型FIB-SEM(MI4000L)※ 20,000円
研磨・薄片化装置
・PIPS Ⅱ M-695
・TEM MILL Model 1050
・Nano MILL Model 1040
・イオンスライサー EM-09100IS
1,200円
各設備使用ごとに料金を徴収
コーティング装置
・イオンコーター JFC-1600
・カーボンコーター EC 32010CC
(1回あたり)550円
各設備使用ごとに料金を徴収

※直交型FIB-SEMでは大規模データ収集のため第1・2枠を超える長時間の使用も可能です。希望される場合はご相談ください。

主な機器